饮料机械 果蔬机械 面食机械 糕点设备 烘焙设备 豆制品设备 乳制品设备 茶叶机械 制冷设备 油炸设备 膨化设备 糖果机械 调味品设备 薯类加工设备 酿酒设备
武汉市艾德宝仪器设备有限公司
武汉市艾德宝仪器设备有限公司
暂无信息 |
日本filmetrics自动膜厚测量系统F50主要特点结合基于光学干涉原理的膜厚测量功能和自动高速载物台的系统以过去无法想象的速度测量点的膜厚和折射率兼容2英寸至450毫米的硅基板，可任何测量点
日本filmetrics自动膜厚测量系统F50
结合基于光学干涉原理的膜厚测量功能和自动高速载物台的系统
以过去无法想象的速度测量点的膜厚和折射率
兼容2英寸至450毫米的硅基板，可任何测量点
F50自动测绘膜厚测量系统是将基于光学干涉原理的膜厚测量功能与自动高速载物台相结合的系统。
以过去无法想象的速度测量点的膜厚和折射率。它支持从2英寸到450毫米的硅基板，并且可以任何测量点。
还有与大型玻璃基板兼容的可选产品。
抗蚀剂、氧化膜、氮化膜、非晶/多晶硅、抛光硅片、化合物半导体衬底、?T衬底等。 |
| 单元间隙、聚酰亚胺、ITO、AR膜、 各种光学膜等。 |
| CdTe、CIGS、非晶硅等 |
| 砷化铝镓（AlGaAs）、磷化镓（GaP）等 |
薄膜厚度分析 FIL Mapper 软件具有强大而的薄膜厚度分析算法和可以让您轻松测量点的功能。
您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
bbin宝盈设备网 设计制作，未经允许翻录必究 .? ? ?
请输入账号
请输入密码
请输验证码
