T300L 镀层测厚仪
T300L是一款应用广泛的能量色散型x射线荧光镀层测厚分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度，同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
l Si-Pin 半导体探测器 | l 高精度大功率光管 |
l EFP 算法自动判障校正 | l 超大开放式的样品台 |
测量范围 | 铝(Al)-铀(U) | 摄像头 | 高清晰工业摄像头 |
探测器 | Si-Pin 半导体探测器 | 放大功能 | 局部倍大 |
种类 | 固定型 | 视窗大小 | 无级别式视窗大小 |
固定种类大小 | 0.5mm | 应用 | 单镀层 |
显示模式 | 元素频谱显示 | 输入电压 | AC220V±10%50/60HZ |
元素显示 | 标签图案显示 | 通讯方式 | 高速 USB 传输 |
指标显示 | 显示元素及测量数值 | 温度控制 | 前置放大及机箱温度控制 |
外观尺寸 | 414*416*362mm | 温度控制 | 自动前置放大温度控制 |
腔体尺寸 | 268*307*97mm | X射线管 | 高精度大功率光管 |
探测器道址 | 4096 道址 | 高压 | 0-50kV(程控) |
测试平台 | 固定 | 管电流 | 0-1mA(程控) |
测试时间 | 10-40s | 目标靶 | W靶 |
软件特性 | EFP 算法,自动判断故障及校正,人性化设计简单易学 | ||
产品性能
稳定性:T300L 有着良好的长期稳定性,不需要经常校准仪器。
无需制备样品:无论是对镀层系统还是对固体,仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。
综合性能:镀层分析/定性分析/定量分析/统计功能
系统安全性
1.前面板安全钮
2.样品室门开闭传感器
3.X射线警示灯
4.主管人员可进行系统维护
5.自动锁定功能防止未的操作
6.系统自动生成操作员的使用记录
7.简单用户界面,只向日常操作员设定有限的
工作特点
? 精准测量单镀层,同时分析15种元素，自动修正X射线重叠谱线
? 测量精度高、稳定性好,测量结果精确至uin
? 快速无损测量,测量时间短,1s内得出测量结果
? 可分析固体;定性、半定量和定量分析
? 强大的数据统计、处理功能:平均值、标准偏差、相对标准偏差、值、最小值等
? 结果输出:直接打印或一键导出到PDF、Excel文件;报告包含数据、图像、统计图、客户信息等
? 测量位置预览功能;高分辨率彩色CCD样品观察系统,标准光学放大倍数为30 倍
? 提供服务及技术支持
应用领域
可用于电子元器件、半导体、PCB、FPC、LED支架、汽车零部件、功能性电镀、装饰件、连接器、端子、卫浴洁具、首饰饰品多个行业表面镀层厚度的测量及材料分析,低成本、高效率。
电子行业
确保元件可靠性,测量焊料合金成分和镀层厚度
优化质量控制,确保产品生命期
五金电镀行业
快速简单的分析,进行单镀层厚度测量和成分分析
可快速无损进行单镀层精准分析
